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  兆赫分析
 
 
 
 
PNP Tera Prospector 兆赫時域分光儀
突破性全新Terahertz技術
適用於廣泛材料
mapping功能
半導體材料內部缺陷, 導電率, 複數折射率, 介電常數與charge carrier濃度分佈分析
 
 
 
 
PNP Tera Evaluator 兆赫時域鑑定儀
突破性全新Terahertz技術
世界第一台適用於4~6吋wafer的橢圓偏振分析機台
適用於各類半導體原料
半導體材料內部缺陷, 導電率, 複數折射率, 介電常數與charge carrier濃度分佈分析
 
 
 
  Tel: 886-2-2577-5217   Fax: 886-2-2578-4157  email: info@regularcorp.com